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Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商
- 更新時(shí)間:2021-12-15
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Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商篤摯儀器-優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值:始終不變的恪守誠(chéng)信,贏得了國(guó)內(nèi)外客戶和供應(yīng)商長(zhǎng)久不變的信任和支持。篤摯儀器總代理的新的Surtronic®S-116系列具有多功能性,可滿足大量表面測(cè)量應(yīng)用的粗糙度要求。 它具有一個(gè)50mm的觸控筆電動(dòng)機(jī),具有直角連接和超過(guò)70mm的觸針距離,即使是*挑戰(zhàn)性的表面測(cè)量,也不需要使用昂貴的升降器,擋塊,支架或固定
品牌 | TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,電子 |
Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商
篤摯儀器-優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值:始終不變的恪守誠(chéng)信,贏得了國(guó)內(nèi)外客戶和供應(yīng)商長(zhǎng)久不變的信任和支持。篤摯儀器總代理的新的Surtronic®S-116系列具有多功能性,可滿足大量表面測(cè)量應(yīng)用的粗糙度要求。 它具有一個(gè)50mm的觸控筆電動(dòng)機(jī),具有直角連接和超過(guò)70mm的觸針距離,即使是挑戰(zhàn)性的表面測(cè)量,也不需要使用昂貴的升降器,擋塊,支架或固定裝置。 實(shí)用和多功能的手寫筆甚至可以顛倒的測(cè)量。
通過(guò)其行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的USB和USB迷你端口,Surtronic S116粗糙度儀為用戶提供了廣泛的連接選項(xiàng)。 多個(gè)部件的粗糙度測(cè)量可以內(nèi)部存儲(chǔ)或保存到標(biāo)準(zhǔn)的USB存儲(chǔ)設(shè)備。 USB端口也可用于連接便攜式打印機(jī),允許打印數(shù)據(jù)伴隨零件到下一階段的制造或zui終用途。 USB迷你端口可用于使用任何標(biāo)準(zhǔn)USB充電器或連接到PC進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和報(bào)告的設(shè)備充電。
Surtronic S-116堅(jiān)固耐用。 其橡膠,抗沖擊的身體提供保護(hù)和改善的舒適握力。 它包圍一個(gè)凹陷的,聚酯薄膜保護(hù)的高耐用觸摸屏和一個(gè)堅(jiān)固的不銹鋼驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),帶有耐磨齒輪和軸承。 該器件由3000mAh重型Li-Poly電池供電,可以從單次充電提供2000次測(cè)量。
數(shù)據(jù)顯示 :
顯示屏每頁(yè)顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果,屏幕上可顯示輪廓圖(剖面圖)
可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦,分析測(cè)試結(jié)果;
觸摸屏可以四個(gè)方向轉(zhuǎn)動(dòng),方便不同位置觀看測(cè)試狀態(tài);
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):
儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形
儀器支持U盤zui大4G,zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形,每批可存儲(chǔ)10萬(wàn)個(gè)測(cè)試結(jié)果,共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無(wú)限數(shù)據(jù)。
電源:
充電器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時(shí)間:4小時(shí)
電池壽命:充電一次可以做2000次測(cè)試
待機(jī)時(shí)間:5000小時(shí)
由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測(cè)試狀態(tài),zui長(zhǎng)時(shí)間不超過(guò)1秒I
自動(dòng)關(guān)機(jī):30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置
表面處理參數(shù)適合您的應(yīng)用:
Surtronic S100可以根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用計(jì)算各種表面光潔度參數(shù),包括:
幅度參數(shù)(測(cè)量表面偏差的垂直特性):
Ra(算術(shù)平均偏差,以前稱為CLA或AA)
Rsk(Skewness)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(取樣長(zhǎng)度內(nèi)平均線以下的zui大剖面深度)
Rt(輪廓總高度)
Rp(zui大輪廓峰高)
Rz1max(也稱為Ry或Rmaz)(Max Peak to valley)
間距參數(shù)(測(cè)量表面偏差的水平特征):
RPc(峰值)
RSm(輪廓元素的平均寬度)
混合參數(shù)(間距和振幅參數(shù)的組合):
Rmr(材料比)
Rdq - R Delta q(采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓的均方根斜率)
上述參數(shù)涵蓋了檢查潤(rùn)滑,進(jìn)料速率,應(yīng)力,摩擦和磨損性能的zui常見要求。
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量范圍:200 um 100 um 10 um
分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) :1%測(cè)試值+底噪
傳感器原:電感
測(cè)量力:150-300mg
測(cè)針針尖半徑:標(biāo)配5 μm (200 μin)
可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測(cè)試方式:滑動(dòng)掃描
校準(zhǔn):
自動(dòng)軟件校準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn):ISO4287